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致茂Chroma 3280Test-In-Tray 測試分類機

主要特色：

• 整合SD卡測試機與自動分類機功能
• 平行測試120個micro SD卡
• Test-In-Tray
• UPH = 5400 (以70秒的測試時間為例)
• 支援SD卡資料通訊協(xié)定
• 支援DC參數(shù)量測功能
• Microsoft Windows XP OS
• 提供Tray Map與分類結果資訊
• 小機臺體積 : 164cm x 79cm x 180cm
• 選配設備
• 3rd Party測試模組整合
• Mini SD, SD與MMC的測試介面
• SD卡資料寫入模組

Chroma 3280采用創(chuàng)新的技術整合SD卡測試機與 自動分類機的功能，并利用Test-In-Tray的技術來 達到大量平行測試的能力。透過支援SD資料傳 輸協(xié)定(SD Protocol Aware)與提供特定DC參數(shù)測 試的功能，3280為所有的SD卡類產(chǎn)品帶來了一 個創(chuàng)新的測試方法，而這高效率的測試方法也為 客戶帶來大幅降低生產(chǎn)成本的好處。此外，小機 臺的設計更可節(jié)省機臺于測試廠之占地面積。

對于低價的消費性產(chǎn)品而言,即使在生產(chǎn)成本上 僅有些微的差距，制造商也會極為敏感。而這樣 的特性往往是此類消費性產(chǎn)品在成品測試中之一 大挑戰(zhàn)。對于SD卡類產(chǎn)品而言，為了能夠降低 生產(chǎn)的成本，SD卡類制造商了解在SD卡的制程 中必須采用Known Good Die(KGD)來進行生產(chǎn)。 其主要的原因，乃是因為采用KGD生產(chǎn)的SD卡類 產(chǎn)品，將可減少在成品測試中對于測試項目的要 求，只需針對成品封裝過程中所可能產(chǎn)生的瑕疵 進行檢測，而不需要再對整個晶片進行完整的測 試。

Chroma 3280整合了測試機臺與自動分類機的功 能，并采用創(chuàng)新的設計，滿足采用KGD生產(chǎn)的SD 卡類產(chǎn)品的測試需求，不論是在機臺的成本或是 體積上，都比傳統(tǒng)的測試機臺來的大幅降低，因 此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。

Chroma 3280提供SD卡高效率的測試解決方案

Test-In-Tray : 乃是將待測物置于IC托盤中直接測 試的測試方式。利用這樣的測試方法，可以大幅 節(jié)省傳統(tǒng)的測試方法因自動分類機在進行測試 時，必須以機器手臂夾取每個待測元件所需花取 的索引時間。因此，提供了一個蕞有效率的測試 方法。在Chroma 3280中,對于120個SD卡進行測 試時所需花費的索引時間大約只有10秒鐘。

高平行測試能力 : Chroma 3280配備了一個專屬 的SD卡測試機巢 (Test Hive)，此一測試機巢提供 了能夠同時測試120個micro SD卡的測試能力。

僅移除SD卡測試壞品 : 由于3280使用置于盤中 直接測試(Test-In-Tray)以及SD卡有著高良率的特 性，3280采取僅從整盤的SD卡中移除于測試過 程中所偵測到的瑕疵品到廢品盤內(nèi)，同時再從預 先準備好的補充盤中夾取已測試過的良品來補足 目前測試盤中被移除的壞品，而將目前的測試盤 填滿成一完整的良品，并送至完測區(qū)。假設若以 98%的測試良率而言，每次僅需從測試盤中移除 2到3個壞品。因此，在進行好壞品分類中平均 所花的時間將小于測試所花的時間，不須要等候 分類工作完成后才能進行下一次的測試，也使得 整體的測試時間更有效率。

SD卡測試模組 : Firecracker II

Firecracker II的電路設計與裝置于3280測試機巢 (Test Hive)中的測試模組其電路設計*一樣。 對于3280的使用者而言，F(xiàn)irecracker II是一個相 當方便的工具。它能夠使得使用者在與3280離線 的狀態(tài)下，用來產(chǎn)生或測試其測試程式。透過多 樣化轉(zhuǎn)接介面的設計，使用者能在Firecracker II的 左端中插入micro SD, mini SD, SD以及MMC等不同 的待測物，而將其右邊的USB介面可插入電腦的 USB插槽，配合Firecracker II所提供的軟體程式， 使用者將可進行直接的測試或是除錯等工作。

測試能力

SD Protocol Aware Tests

• Check CID Reg
• Check CSD Reg
• Check OCR Reg
• Check SCR Reg
• Check SD Status
• Functional Test

DC Measurements

• Open/Shorts
• ESD Diodes
• Power Up Idd
• Leakage

軟體功能

• 使用者權限與密碼管理
• 機臺狀況警示偵測系統(tǒng)
• 視覺化圖解顯示機臺卡件錯誤發(fā)生區(qū)域
• 提供離線模擬執(zhí)行模式
• 即時測試結果顯示與更新
• 可個別或取消單一待測物之測試
• 測試良率與UPH資訊顯示
• 多種良率監(jiān)控指標設定
• 測試中機臺開門中斷保護功能
• 緊急停機控制功能
• 系統(tǒng)警示紀錄保存功能

Sorting Status

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