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 致茂Chroma 1870D/1870D-12 電感測(cè)試包裝機(jī)

主要特色：

• 測(cè)試包裝速度80ppm~1,800ppm
• 標(biāo)準(zhǔn)功能： 
  - 電感/品質(zhì)因素測(cè)試 
  - 繞線電阻測(cè)試 
  - 極性測(cè)試
• 選配功能： 
  - 層間短路測(cè)試 
  - 絕緣電阻測(cè)試 
  - 重疊電流測(cè)試
• 圓振盤入料設(shè)計(jì)，穩(wěn)定快速供料
• 導(dǎo)引盤設(shè)計(jì)，無掉料疑慮
• 四線式量測(cè)設(shè)計(jì)的測(cè)試座
• 入料異常自動(dòng)排料機(jī)構(gòu)
• 各測(cè)試站皆有獨(dú)立的不良品收集盒
• 另提供測(cè)試不包裝功能，良品只被收集在散裝收集盒內(nèi)
• 專用資料蒐集軟體，可即時(shí)監(jiān)控生產(chǎn)品質(zhì)
• 預(yù)留噴碼及光學(xué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)位置
• 切換式中/ 英/日文 操作介面
• 設(shè)備快速、穩(wěn)定、安全

Chroma 1870D系列 (1870D/1870D-12)是一款為 晶片型電感所設(shè)計(jì)的自動(dòng)化測(cè)試生產(chǎn)設(shè)備，包含 晶片電感所需的各項(xiàng)測(cè)試功能，並具備製程終端 的捲帶包裝自動(dòng)化機(jī)械，達(dá)到生產(chǎn)線的製造自動(dòng) 化。

Chroma 1870D/1870D-12的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能包含 電感值(Ls)/品質(zhì)因素(Q)量測(cè)、繞線電阻(RDC) 量測(cè)、極性(Polarity)測(cè)試，並可選配層間短路 測(cè)試(IWT)、絕緣電阻(IR)測(cè)試及重疊電流(BIAS Current)測(cè)試，包含晶片電感的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格及品質(zhì) 相關(guān)的測(cè)試項(xiàng)目。

為因應(yīng)現(xiàn)今電子產(chǎn)品，微型電感被大量使用，相 對(duì)的電感需大量生產(chǎn)，Chroma 1870D/1870D-12 大生產(chǎn)效率為每分鐘1,800個(gè)，可滿足龐大的 需求數(shù)量。除測(cè)試外，1870D/1870D-12也具備自 動(dòng)包裝機(jī)械，可將產(chǎn)品自動(dòng)封裝於包裝捲帶，以 符合SMD生產(chǎn)所需樣式。

Chroma 1870D/1870D-12的供料模組採(cǎi)用圓盤振 動(dòng)送料，圓盤振動(dòng)送料可高速運(yùn)送薄型化產(chǎn)品。 圓盤振動(dòng)送料透過軌道設(shè)計(jì)、光纖偵測(cè)及氣孔吹 氣決定入料方向，相較於以往的直線往復(fù)式的機(jī) 械送料，較快速也省空間。

傳統(tǒng)往復(fù)式機(jī)械或砲塔式機(jī)械架構(gòu)在測(cè)試移載 時(shí)，是以吸嘴設(shè)計(jì)吸附產(chǎn)品進(jìn)行移載，往往在移 載時(shí)受移動(dòng)慣性影響發(fā)生產(chǎn)品掉落，或因定位不 準(zhǔn)確而無法測(cè)試。Chroma 1870D/1870D-12的測(cè) 試區(qū)以導(dǎo)引盤架構(gòu)設(shè)計(jì)，整體為封閉式的架構(gòu)， 在進(jìn)行高速移載時(shí)不會(huì)有產(chǎn)品遺漏的疑慮，相較 於傳統(tǒng)機(jī)械架構(gòu)更快速及穩(wěn)定。

致茂電子專精於電子測(cè)試技術(shù)，對(duì)於自動(dòng)測(cè)試設(shè) 備的測(cè)試治具也有專門的設(shè)計(jì)。Chroma 1870D /1870D-12測(cè)試站所使用的測(cè)試座為四線式量測(cè) 設(shè)計(jì)，比一般自動(dòng)測(cè)試設(shè)備更精準(zhǔn)穩(wěn)定。測(cè)試座 與產(chǎn)品的連接端採(cǎi)片式設(shè)計(jì)，相較於探針於使用 上容易接觸且壽命長(zhǎng)，於量測(cè)上片式設(shè)計(jì)也較探 針穩(wěn)定且容易維護(hù)。

Chroma 1870D/1870D-12具備專用軟體，可於生 產(chǎn)過程中即時(shí)監(jiān)控測(cè)試狀態(tài)，將每一個(gè)產(chǎn)品的測(cè) 試數(shù)據(jù)蒐集儲(chǔ)存。即時(shí)監(jiān)控功能利於生產(chǎn)單位於 生產(chǎn)時(shí)降低生產(chǎn)風(fēng)險(xiǎn)，減少不必要生產(chǎn)工時(shí)。數(shù) 據(jù)蒐集功能有利於研發(fā)及品保單位做產(chǎn)品分析或 品質(zhì)控管，透過軟體協(xié)助提升生產(chǎn)品質(zhì)。

產(chǎn)品應(yīng)用

研發(fā)、品保批量驗(yàn)證

研發(fā)及品保單位針對(duì)產(chǎn)品會(huì)進(jìn)行所有特性檢測(cè)，分別為基本電氣特性及品質(zhì)相關(guān)測(cè)試，測(cè)試站別則包含極性測(cè)試、層間短路測(cè)試 (或選擇重疊電流測(cè)試)、繞線電阻測(cè)試及電感/品質(zhì)因素測(cè)試，進(jìn)而蒐集與分析測(cè)試數(shù)據(jù)以評(píng)估品質(zhì)，或進(jìn)行產(chǎn)品打樣試產(chǎn)。Chroma 1870D/1870D-12系統(tǒng)提供彈性化選擇，依不同單位或需求選擇搭配測(cè)試站別。

產(chǎn)線全功能電氣特性測(cè)試

比照研發(fā)端，將全部電氣特性測(cè)試納入生產(chǎn)線，包含極性測(cè)試、層間短路測(cè)試(或選擇重疊電流測(cè)試)、繞線電阻測(cè)試及電感/品質(zhì)因素測(cè)試。

產(chǎn)線標(biāo)稱值快速測(cè)試

針對(duì)產(chǎn)線僅測(cè)試標(biāo)稱值來達(dá)到快速生產(chǎn)的需求，測(cè)試項(xiàng)目則調(diào)整為繞線電阻測(cè)試及電感/品質(zhì)因素測(cè)試。

系統(tǒng)預(yù)留空間搭配標(biāo)印及標(biāo)印光學(xué)檢查

部分功率電感需在頂部做標(biāo)印，以判別電感極性方向或樣式類別。Chroma 1870D/1870D-12可配合將客戶現(xiàn)有的標(biāo)印系統(tǒng)及光學(xué)檢查系統(tǒng)安裝整合於 系統(tǒng)內(nèi)。

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